Fornecer equipamento de ensaio de sistema de ligação de placas de produtos semiacabados estável, fiável e seguro para a troca de fontes de alimentação
Vantagens do sistema de ensaio automático de alimentação por comutação TopFer 1100:
• Adequado para aplicações de ensaio de fontes de alimentação AC/DC e conversores DC/DC.
• Alta extensibilidade, fácil integração de testadores de interface normalizados.
• Velocidade de ensaio rápida, 3-4 vezes mais rápida que os sistemas ATS tradicionais.
• Plataforma de sistema aberto, que permite a auto-edição de etapas de teste de acordo com os requisitos.
• Interface padronizada de controlo de instrumentos e ambiente de funcionamento gráfico (interface Windows).
• A fonte de alimentação ATE de comutação TopFer 6600 fornece capacidades de concepção de relatórios e análise estatística.
No teste de desempenho dos produtos de alimentação, os equipamentos de teste de alimentação podem substituir o trabalho manual, transformando-se de testes manuais tradicionais para testes automatizados atuais,aumentando assim a eficiência da produçãoAo mesmo tempo, compromete-se a melhorar a simplicidade, a flexibilidade e a ampla aplicabilidade da operação dos equipamentos de ensaio de alimentação.
Hoje, a indústria transformadora está a experimentar avanços tecnológicos rápidos, especialmente com exigências de qualidade cada vez mais elevadas para os produtos de alimentação,de potência não superior a 50 W, mas não superior a 150 W,Por esta razão, a Chuangrui Electronics, com base nas demandas do mercado e baseando-se em mais de dez anos de experiência em P&D, desenvolveu vários equipamentos de teste para produtos de alimentação,como sistemas de ensaio de pilhas de carga, sistemas de ensaio de alimentação por adaptador, sistemas de ensaio de carregador/banco de alimentação e sistemas de ensaio de alimentação por computador.Sistemas de ensaio de alimentação móvel, sistemas de ensaio de alimentação industrial e outros instrumentos de ensaio.
Elementos de ensaio para o sistema de ensaio de alimentação por comutação:
| Elementos de ensaio |
Elementos de ensaio |
| Medição em modo LED. |
Rastreamento |
| Corrente contínua em modo C.V. |
Teste de curto-circuito |
| Ruído de pico-pico |
Corrente de curto-circuito |
| Ruído de pico de corrente-pico |
Protecção OV |
| Pico de tensão - Ruído de pico |
Proteção UV |
| Tempo de resposta transitório |
Proteção contra OL |
| Pico transitório |
Proteção OP |
| Regulação da tensão |
Ajuste durante o teste |
| Regulamento em vigor |
Desligação do ciclo AC |
| Tempo de ligação |
Simulação PLD |
| Tempo de ascensão |
GPIB leitura/escritura |
| Tempo de queda |
232 leitura/escrita |
| Tempo de espera |
USB de leitura/gravação |
| Ensaio de corrente de entrada |
Controle do sinal TTL |
| Potência bom sinal. |
Controle do relé |
| sinal de falha de energia |
Análise de código de barras |
| P/S sinal ligado |
Ensaio dinâmico |
| Sequência de ligação |
Especificação do modo C.P. |
| Sequência de desligamento |
Corrente de saída de CC |
| Eficácia |
Tensão de saída CC |
| Corrente RMS de entrada |
Teste Ripple atual |
| Potência de entrada |
Corrente de atenuação |
| Fator de potência de entrada |
Frequência de atenuação |
| Rampa de tensão de entrada |
Período de atenuação |
| Frequência de entrada |
|
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